聚焦离子束扫描电子显微镜
发布时间:2024-09-25
Crossbeam 350双束扫描电镜,该设备同时具备微纳刻蚀加工能力和分析观察能力,成为微纳结构加工、截面分析、透射电镜样品制备等领域的重要工具。在实际应用中,该设备能够精确切割样品,获取失效区域的截面图像,直观展示内部结构和缺陷形态。
一、仪器信息
仪器名称:聚焦离子束扫描电子显微镜
生产制造商:德国卡尔•蔡司公司(Carl Zeiss AG)
型号:Crossbeam 350
二、主要技术参数
1. 二次电子分辨率:0.9 nm@15kV;
2. 放大倍数:12×—2000000×;
3. 离子束分辨率:≤3 nm@30kV;
4. 离子束最大可用加工束流强度100 nA;
5. 能谱探头:硅漂移探头;有效探测面积40mm2;
元素探测范围:Be4~Cf98
6. EBSD探头:取向精度高达0.05度;在线解析最高标定速度600pps,此时花样分辨率仍能保持为312*256;
7. 原位拉伸台:载荷加载范围:0~4000N;
8. 原位电化学测试样品台:配备液体芯片,窗口厚度优于30nm,液体间隔层厚度可选,最小100nm;
9. 冷冻制样样品台:冷台温度:-180℃;
10. 纳米探针台:三轴XYZ行程:±10.0mm;
最大运动速度:3mm/s;
细调分辨率:1.2nm。
三、应用领域
广泛应用于金属、能源化工、电子半导体等领域。
四、服务范围
1.对材料进行形貌表征、表面元素成分分布、晶粒尺寸统计和取向分析等;
2.常温及低温环境下TEM制样和截面分析;
3.通过相应的原位附件,可以在微纳尺度下完成原位力学和原位电化学性能测试。